（介電常數(shù)測試儀）介質損耗測試儀GDAT-A

（介電常數(shù)測試儀）介質損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容率和介質損耗因數(shù)的試驗方法》

（等效采用IEC 60250）設計和制造的，并符合JB 7770等試驗方法。

它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測試。

電感：
 
線圈號    測試頻率    Q值    分布電容p       電感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH            
  1   25MHz，50MHz   233，211    0.9       0.125μH

技術指標：
  1．Q值測量
   a．Q值測量范圍：2～1023。
   b．Q值量程分檔：30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
 c．標稱誤差
項    目GDAT-A
頻率范圍20kHz～10MHz；
固有誤差≤5％
工作誤差≤7％
頻率范圍10MHz～60MHz；
固有誤差≤6％
工作誤差≤8％
  
 2．電感測量范圍：14.5nH~8.14H
  
3．介電常數(shù)介質損耗試驗儀電容測量：1~ 460

項    目    GDAT-A
直接測量范圍

1～460pF     主電容調節(jié)范圍      準確度 30～500pF   150pF以下±1.5pF；   150pF以上±1％
   注：大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則
   4．介電常數(shù)介質損耗試驗儀信號源頻率覆蓋范圍

產(chǎn)品特點：

雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。 
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。 
雙數(shù)碼化調諧 - 數(shù)碼化頻率調諧，數(shù)碼化電容調諧。 
自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。 
全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 
DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。 
計算機自動修正技術和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至低，治療 Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。